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發(fā)布信息

美國福祿克Fluke接地電阻測試儀 Fluke 1621 接地電阻測試儀

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品牌: 美國福祿克Fluke
類型: 測試儀
單價: 面議
所在地: 上海
有效期至: 長期有效
最后更新: 2023-07-10 11:37
瀏覽次數(shù): 335
詢價
店鋪基本資料信息
 
產(chǎn)品詳細說明
                                              美國福祿克Fluke接地電阻測試儀   Fluke 1621 接地電阻測試儀
     美國福祿克Fluke接地電阻測試儀 Fluke 1621 是一款簡單易用的接地測試儀。 對于接地電阻測試場合,1621 是檢測可靠接地連接線路的**道防線。 裝置采用多種基本的接地測試方法,其中包括三極電壓降測試法及兩極接地電阻測試法。 它的尺寸輕巧方便,擁有結(jié)實的皮套以及清晰的寬大 LCD 顯示屏,使之成為大多數(shù)電氣接地工作場合的理想現(xiàn)場接地測試儀。
產(chǎn)品特點 

技術(shù)指導
常規(guī)技術(shù)指標
測量功能
   三極接地電阻,兩極交流電阻,干擾電壓
基本誤差
   查閱參考溫度范圍,提供一年保修
測量速率
   每秒測量 2 次
電池
   1 個 9 伏堿性電池 (LR61)
電池電量狀態(tài)
   如果電壓低于 6.5 V,則會顯示 LO-BAT(低電量)
電壓
H/C2 和 E/C1 接頭之間:   *大 250 Veff(有效電壓)
S/P2 和 E/C1 接頭之間:  *大 250 Veff
氣候類別
   VDE/VDI 3540 RZ(符合 KWG,每個 DIN 40040,4/87)
溫度性能
工作:  -10 °C 至 +50 °C(+14 °F 至 +122 °F)
操作:  0 °C 至 +35 °C(+32 °F 至 +95 °F)
存儲:  -20 °C 至 +60 °C(+68 °F 至 +140 °F)
參考:   +23 °C ± 2 °C (+73 °F ± 4 °F)
溫度系數(shù)
   量程的 ± 0.1 %,每開氏溫度
安全
   IEC/EN 61010-1,600 V,II 類,2 級污染
尺寸
   113 毫米 x 54 毫米 x 216 毫米((4.5 英寸 x 2.1 英寸 x 8.5 英寸),包括護套
重量
   850 克(1.9 磅),包括標準附件,體積約 600 立方厘米
:
   如果不使用測試儀,或需要長期存放,請卸下電池并與測試儀分開存放,以免電池泄露對測試儀造成損害。
:
   測試儀的 4 個溫度范圍符合歐洲安全標準要求;通過使用溫度系數(shù)來計算工作環(huán)境溫度下的準確度,儀器可在整個溫度范圍內(nèi)正常工作。

 

電氣技術(shù)指標
*大偏差:
E1 影響因素  位置
E1 偏差影響  0%
E2 影響因素  電壓
E2 偏差影響  0%
E3 影響因素  溫度 E3
E3 偏差影響  2.3 %
E4 影響因素  串行干擾電壓 (20 V)
E4 偏差影響  0.6 %
E5 影響因素  探針和輔助探針電阻
E5 偏差影響  10%
測試電壓
   3.7 kV
保護等級
   IP 40;IEC/EN 60529
電磁兼容性
   輻射: EC/EN 61326,B 類
   抗擾: IEC/EN 61326,附錄 C
RE 電阻測量
測量方法  使用改進的串擾衰減方法進行電流-電壓測量,無需補償導線電阻測量,使用探針(三極)或不使用探針(兩極),符合 IEC/EN 61557-5 標準
開放電路電壓  23 至 24 V ac
短路電流  > 50 mA ac
測量頻率  128 Hz
*大許可過載  250 Veff
測量時間
   8 秒(從按“開始起計算的平均值)
限制輸入
   即使測試儀關(guān)閉,仍會保留設(shè)定值(如果電池電量充足)
自動切換分辨率
RH  < 7 kΩ
分辨率  0.01 Ω
RH  < 50 kΩ
分辨率  0.1 Ω
RH  > 50 kΩ
分辨率  1 Ω
干擾直流和交流電壓顯示
*大電壓  30 Veff
共模抑制  > 80 dB,50 Hz 和 60 Hz
Ri  680 kΩ
測量誤差  對于純交流電和直流電信號,< 10 %

 

量程
0.15 Ω 至 20 Ω
分辨率  0.01 Ω
顯示范圍  0 至 19.99 Ω
200 Ω
分辨率  0.1 Ω
顯示范圍  20 至 199.9 Ω
2 kΩ
分辨率  1 Ω
顯示范圍  200 至 1999 Ω
基本誤差
   ±(測量值的 6 % + 5 位數(shù)字)
操作誤差 IEC 61557
   ±(測量值的 18 % + 5 位數(shù)字)
:
   [1] 包括影響因素 E1-E5 造成的所有偏差。
如果高探針或輔助探針電阻造成的偏差 E4 高于指定值,即會閃爍。
測量值不在指定的操作誤差范圍內(nèi)。