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普林斯頓宣布推出新一代VersaSCAN微區(qū)電化學(xué)掃描系統(tǒng)

放大字體  縮小字體 發(fā)布日期:2014-10-10     來源:[標(biāo)簽:出處]     作者:[標(biāo)簽:作者]     瀏覽次數(shù):152
核心提示:

  Scanning Kelvin Probe (SKP) 掃描開爾文探針測試

  Scanning Vibrating Electrode Technique (SVET, SVP) 掃描振動電極測試

  Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy (LEIS) 微區(qū)電化學(xué)阻抗測試

  Scanning Droplet System (SDS) 掃描電解液微滴測試

  Non-Contact Surface Profiling (OSP) 非觸式微區(qū)形貌測試

  2. 高精度的樣品定位平臺,分辨率達(dá)50nm;樣品測試區(qū)域可達(dá)100mm.

  3. 建立在普林斯頓50年電化學(xué)工作站研發(fā)和生產(chǎn)經(jīng)驗上的集成產(chǎn)品,提供更卓越的電流及電位測試信噪比以及阻抗測試能力。

  4. 多功能軟件可以實現(xiàn)多個微區(qū)測試的功能,操作簡便,數(shù)據(jù)處理及展現(xiàn)功能強大。

  5. 專業(yè)的產(chǎn)品應(yīng)用與技術(shù)服務(wù)隊伍,提供全方位的售后支持。

VersaSCAN 微區(qū)電化學(xué)掃描系統(tǒng)

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